| Fehleranalayse in integrierten Schaltkreisen ICs durch plasmaätzen, trockenätzen, Plasmaabtrag (RIE, Reaktives Ionenätzen) einzelner Schichten | ||
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Für die Fehleranalyse in integrierten
Schaltkreisen ist es notwendig einen Chip zu öffnen und die
Schichten nacheinander zu entfernen um den versteckten Fehler oder die
versteckten Fehler zu finden. Außerdem ist es notwendig, die
Ursache des Fehlers zu bestimmen um diesen in Zukunft zu verhindern
und/oder die Leistung des Geräts zu verbessern. Erhöhte
Anzahl der Kreise auf einem Raum, kleinere Bauteilgrößen und
immer mehr Multischichttechniken haben für
Fehleranalyseningenieure viele neue Herausfordungen geschaffen.
Heutzutage werden für diese Arbeit Phantom
Plasmaätzer verwendet. Trion Ingenieure haben viel Erfahrung mit
der Fehleranalyse und allem Equipment, das notwendig ist um diese
Geräte (z.B. ein Rasterelektronenmikroskop) zu entwickeln und
darzustellen.
Je nach gewünschter Information wird die Entfernung der Schichten
auf zwei Arten durchgeführt: anisotrope Entfernung aller
nichtleitenden Schichten oder sequenzielle Entfernung aller Schichten
einschließlich der Leiter.
Bei dieser Methode werden alle nichtleitenden Schichten anisotrop bis zur Siliziumoberfläche entfernt. Metallleiter bleiben auf einem Sockel aus nichtleitendem Material sitzend zurück. Anisotropes Ätzen wird verwendet um die Unterhölung von Metallleitungen zu verhindern, da ansonsten der Druck auf das Metall Delamination verursacht. Wenn das Siliziumdioxid sich dem Polysilicon des Tormaterials nähert, wird ein CF4 + CHF3 Gasgemisch verwendet um die Selektivität Silizium gegenüber zu verbessern und die Erosion der Polysiliconleitungen zu vermindern.

Anisotropes nichtleitendes Entfernen ist
nützlich, aber in vielen Situationen liegt der Fehler oder andere
interessante Teile unter den Leitern. In diesem Fall ist es notwendig,
das Metall und die nichtleitenden Schichten sequenziell zu entfernen.
Die richtige Ätzrezepteinstellung ist wichtig um zu verhindern,
dass Schichten die nicht geätzt werden sollen versehentlich
entfernt werden. Es ist wichtig, dass die niedrigeren Level der
Metallschichten nicht offen liegen wenn das höchste Level
geätzt wird, ansonsten wird das niedrigere Level frühzeitig
entfernt.
Um die Ebenheit während der sequenziellen Entschichtung eines IC
zu gewährleisten, ist es wünschenswert jeden nichtleitenden
Ätzvorgang zu unterbrechen wenn ein zu der nächsten
Metallschicht ebenes Level erreicht ist. Wenn die Passivation
geätzt wurde, sollte es demnach auf dem Level der Basis der
Metalllinie geätzt werden. Da es keine Ätzpause zwischen den
nichtleitenden Schichten gibt, bnötigt dieser Prozess einen
zeitlich festgelegten Ätzvorgang.
Induktiv gekoppelte Plasmasysteme bieten
gegenüber RIE-Systemen viele Vorteile, so wie schnellere
Ätzraten, saubereres und selektiveres Ätzen und verursachen
zusätzlich viel weniger Schaden am Plasma, aufgrund der
niedrigeren Ansprechspannung oder der Gleichstromsvorspannung auf dem
Oberflächenmuster.
Diese Vorteile sind auch wichtig für den Fehleranalyseningenieur.
Die höhere Ätzrate ermöglicht dem FA-Ingenieur mit
niedrigerer RIE spannung zu arbeiten und trotzdem noch eine
ausreichende anisotrope Ätzwirkung des Plasmas auf der Probe zu
erreichen. Auf diese Art und Weise wird das Gerät nur
minimal geschädigt. Das RIE-Ätzen allein vollbringt einen
guten Ätzprozess bis zum dritten Level des Metals während die
ICP-Maschine bis zu 4-6 Level schafft. (siehe Bild)

Eine detailliertere Beschreibung der Verwendung von
Plasmaätzern in der Fehleranalyse ist in dem Dokument von Trion
"Plasma Delayering of Integrated Circuits." von A. Croockett, M.
Almoustafa und W. Vanderlinde erhältlich.
Crystec Technology Trading GmbH, Germany,
www.crystec.com, +49
8671 882173, FAX 882177


Es sind eine Standardversion (links) und eine
ICP-Version (Mitte Links) erhältlich. Zusätzlich haben wir
noch eine Standardversion mit einem Vakuum-Loadlock (Mitte rechts) und
eine
ICP-Version mit einem Vakuum-Loadlock im Angebot (rechts).
Die Phantom III RIE Anlage wurde entwickelt um Nitride, Oxide und
andere Filme oder Substrate, die mit
Fluor-haltigen Chemikalien reagieren zu ätzen. Wegen ihrer
modularen Form, die auf einer platzsparenden Plattform befestigt ist,
ist dieses System für vieler Verbraucher auf der Welt erste Wahl.
In der IC Fehleranalyse wird gewöhnlich der Typ Phantom mit ICP-Modul eingesetzt, um höhere Ätzraten zu erzielen und geringe Schäden zu verursachen. Eine Beladeschleuse wird normalerweise nicht eingesetzt um die Zeit für Be- und Entladevorgänge kurz zu halten. Nur in Fällen, in denen spezielle Gase eingesetzt werden, die die Schleuse zum Schutz der Betreiber notwendig macht, wird diese installiert.
Reaktor - Die Kathode und die Anode werden beide aus vollen Aluminiumblöcken hergestellt. Nach einer sorgfältigen Inspektion werden sie zum Schutz vor Prozesschemikalien eloxiert. Die untere Elektrode ist in 200mm- oder 300mm-Größe erhältlich und kann Wafer mit bis zu 200mm oder 300mm Durchmesser bearbeiten. Die Prozessgase werden entweder durch einen kranzförmigen Ring oder über einen Duschkopf in die Kammer eingebracht.
Automatische Steuerelektronik - Die einzigartig designte Elektronik ist als fester Bestandteil in der unteren Elektrode eingebaut um die genaue Abstimmung, geringen Übermittlungsverlust und extrem geringe Hochfrequenz (HF) Strahlung außerhalb der Elektronik selbst sicher zu stellen. Die Elektronik verwendet ein Phasenamplitudenmessgerät und einen Verstärker um eine schnelle Rückkopplung für eine schnelle und präzise Abstimmung der Anlage zu liefern.
RF Generator - Die Phantom III wird mit einem 600 Watt, 13.56 MHz RF Generator geliefert. (Die Phantom LT wird mit einem 300 Watt RF Generator geliefert.)
Touch Screen Bedienungsdisplay - Ein Farbflachbildschirm mit berührungsempfindlicher Oberfläche bietet dem Benutzer jederzeit Zugang zu vollständigen Prozessinformationen. Die Softwareoberfläche führt den Benutzer durch jeden Abschnitt in einer logischen Art und Weise und ermöglicht Kontrolle über alle Prozessparameter.
PC Prozesssteuerung - Die PC Prozesssteuerung ermöglicht eine einfache und sichere Systemsteuerung. Die Grafiksoftware erstellt Programme in der Blockschaltbildform. Rezepte zur Festlegung des Prozessablaufes werden auf der Festplatte gespeichert oder können auf einem USB Speicher gespeichert werden um jedem Benutzer individuelle Rezepte zu ermöglichen.
Wechselstromverteiler - Der Wechselstromverteiler verteilt automatisch die voreingestellten Spannungsmengen auf die verschiedenen integrierten Komponenten. Wenn der Not-Aus-Schalter gedrückt wird, wird die HF Spannung abgeschaltet und alle Ventile, die für die Gaszuführung verwendet werden, werden automatisch geschlossen und die Maschine geht automatisch in einen sicheren Standby-Modus. Dieses System schließt seperate Spannungsregler für den Hauptwechselstrom und das Umfeld ein.
Automatischer Druckregler - Jedes Trionsystem enthält ein Butterfly-Ventil zur Druckregelung, das direkt vom Prozessregler bedient wird. Dies sorgt für eine Druckregelung, die unabhängig von allen anderen Prozessparametern ist.
Gaszuführsystem - Modernste Technik wird eingesetzt, um jegliche Kontamination zu vermeiden und höchste Reinheit sicherzustellen. Jede Phantom III Reaktionskammer besitzt bis zu acht Massendurchflussregler, alle Rohrleitungen verwenden Surface Mount Technologie und C-Seal Technologie oder ringförmig verschweißte VCR Fassungen. (Die Phantom LT wird mit zwei Massendurchflussreglern geliefert.)
Sicherheit - Das System erfüllt alle SEMI S2-93 Sicherheitsanforderungen. Eine Sicherheitsübrprüfung durch Dritte ist auf Anfrage möglich.
Anlagen - Anlagenschaltbilder können auf Anfrage bereitgestellt werden.
Pumpsysteme - Jede Reaktionskammer benötigt eine eigene Pumpe. Trion kann diese ihren Ansprüchen entsprechend liefern. Es sind mechanische, trockene und Turbopumpen lieferbar. Sie können wählen, ob sie ihre eigene(n) Pumpe(n) bereitstellen wollen oder ob Sie sie direkt bei Trion kaufen wollen. Alle Pumpenvarianten, die von Trion angeboten werden, sind erprobte Systeme, die ausgewählt wurden um Ihre spezifischen Prozessanforderungen bestmöglichst zu erfüllen.
Temperatursteuerung - Ein Kühlkreislauf mit externem Kühler oder Heizer/Kühler wird empfohlen. Durch die Steuerung der Reaktortemperatur (über die untere Elektrode) wird die Reproduzierbarkeit des Prozesses enorm verbessert und Ätznebenprodukte verflüchtigen sich leichter.
Endpunktmesssystem - Trion bietet sowohl optische als auch Laser-Endpunktmessgeräte an, die es dem Benutzer ermöglichen die Veränderung der Dicke des Films in situ und während des Ätzprozesses zu messen. Diese Systeme sind in die Anlagensoftware integriert und werden von dieser gesteuert.
Induktiv gekoppeltes Plasma (ICP) - Das von Trion verfügbare, integrierte ICP ist eine bewährte Variante für die Fehleranalyse. Es reduziert den Strahlungsschaden und die Kontamination durch Sputterwirkung des RIE-Plasmas enorm und steigert die Selektivität beim Ätzen unterschiedlicher Filme deutlich. Durch ICP sind höhere Plasmadichten möglich, da die Energie induktiv durch das Magnetfeld in das Plasma eingekoppelt wird. Dies ermöglicht Prozesse bei niedrigerem Druck, was einige maßgebliche Vorteile mit sich bringt. Es ermöglicht eine stark anisotrope Ätzung bei Strukturen mit großem Seitenverhältnis und reduziert den Microloading Effekt.Trions ICP Quelle ermöglicht verbesserte Ätzraten, Profilsteuerung, Gleichmäßigkeit und Selektivität mit dramatischer Reduzierung des RIE Strahlungsschadens. Die Phantom III ICP Anlage wird mit einem 600 oder 1250 Watt 13,56 MHz Netzteil sowie einer automatischen Anpassung geliefert. (Die Phantom LT ICP Anlage wird mit einerm 600 Watt Netzteil geliefert.)
Elektrostatischer Probenhalter - Es ist oft entscheidend, dass die Substrattemperatur während des Ätzens niedrig gehalten werden kann. Trions elektrostatischer Chuck fixiert den Wafer durch elektrostatische Kräfte sicher während etwas Helium über die Rückseite des Wafers strömt und diesen deutlich abkühlt.
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